第1章　半导体二极管及其基本电路　1
　1.1　半导体基础知识　2
　　1.1.1　半导体材料　2
　　1.1.2　PN结及其单向导电性　4
　1.2　半导体二极管及其特性　5
　　1.2.1　二极管的结构与符号　5
　　1.2.2　二极管的伏安特性　6
　　1.2.3　二极管的主要参数　8
　1.3　特殊二极管　9
　　1.3.1　稳压二极管　9
　　1.3.2　发光二极管　11
　　1.3.3　光电二极管　11
　　实验训练1　半导体二极管单向导电性的测试　13

第2章　半导体三极管及其放大电路　17
　2.1　半导体三极管　19
　　2.1.1　三极管的结构与图形符号　19
　　2.1.2　三极管的电流放大作用　21
　　实验训练2　半导体三极管各极电流分配关系的测试　22
　　2.1.3　三极管的特性曲线　24
　　2.1.4　三极管的主要参数　27
　2.2　放大电路的性能指标　27
　　2.2.1　放大倍数　28
　　2.2.2　输入电阻　29
　　2.2.3　输出电阻　29
　　实验训练3　共射基本放大电路性能指标的测试　30
　2.3　共发射极放大电路　31
　　2.3.1　共发射极放大电路的组成　32
　　2.3.2　放大电路的基本分析方法　34
　2.4　静态工作点稳定的放大电路　43
　　2.4.1　温度对静态工作点的影响　43
　　2.4.2　分压式偏置电路　43
　　实验训练4　分压式偏置电路工作点稳定性的测试　45
　2.5　共集电极和共基极放大电路　46
　　2.5.1　共集电极放大电路　46
　　实验训练5　共集电极放大电路基本特性的测试　49
　　2.5.2　共基极放大电路　49
　2.6　多级放大电路　50
　　2.6.1　多级放大电路的耦合方式　51
　　2.6.2　多级放大电路的性能分析　52
　2.7　反馈放大电路　52
　　2.7.1　反馈的基本概念　53
　　2.7.2　反馈类型的判断方法　54
　　2.7.3　反馈放大电路的分析　56
　　2.7.4　负反馈对放大电路性能的影响　57
　　实验训练6　负反馈放大电路放大倍数稳定性的测试　59

第3章　场效应管及其放大电路　67
　3.1　场效应管概述　68
　3.2　结型场效应管（JFET）　69
　　3.2.1　JFET的结构和工作原理　69
　　3.2.2　JFET的特性曲线　71
　　3.2.3　JFET的主要参数　72
　　实验训练7　JFET各电压与电流关系的测试　72
　3.3金　属-氧化物-半导体场效应管（MOSFET）　74
　　3.3.1　N沟道增强型MOSFET　74
　　3.3.2　N沟道耗尽型MOSFET　75
　3.4　场效应管放大电路　78
　　3.4.1　场效应管基本放大电路的组成　78
　　3.4.2　分压式偏置电路　80

第4章　集成运算放大器及其应用　83
　4.1　集成运算放大器简介　84
　　4.1.1　集成运算放大器基本结构　84
　　4.1.2　集成运放的符号　86
　　4.1.3　集成运放的主要性能指标　87
　　4.1.4　集成运放的电压传输特性　87
　　4.1.5　理想集成运放　88
　4.2　集成运放的线性应用　89
　　实验训练8　集成运放加法电路的测试　92
　　实验训练9　集成运放减法电路的测试　94
　4.3　集成运放的非线性应用电路　97

第5章　低频功率放大电路　104
　5.1　概述　105
　　5.1.1　功率放大电路的特点　105
　　5.1.2　功率放大器的分类　106
　5.2　乙类互补对称功率放大电路　107
　　5.2.1　互补对称功放电路的组成和原理　108
　　5.2.2　互补对称功放电路分析　109
　　5.2.3　消除交越失真的互补对称电路　110
　　实验训练10　低频功率放大器的测试　112
　5.3　集成功率放大器的应用　113

第6章　直流稳压电源　116
　6.1　直流稳压电源的组成和作用　117
　6.2　整流电路　118
　　6.2.1　半波整流电路　118
　　6.2.2　全波桥式整流电路　119
　6.3　滤波电路　121
　　6.3.1　电容滤波电路　121
　　6.3.2　电感滤波电路　122
　　6.3.3　其他滤波电路　122
　6.4　稳压电路　123
　　6.4.1　硅稳压二极管稳压电路　123
　　6.4.2　串联反馈式稳压电路　123
　　6.4.3　三端集成稳压器　124
　　实验训练11　三端式稳压器电路的测量　125

第7章　数字逻辑基础　128
　7.1　数字电路概述　129
　　7.1.1　数字信号与模拟信号　129
　　7.1.2　数字技术和数字系统　130
　7.2　数制与编码　131
　　7.2.1　数制　131
　　7.2.2　数制间转换　132
　　7.2.3　编码　134
　7.3　逻辑代数运算　135
　　7.3.1　逻辑代数基本运算　136
　　7.3.2　逻辑代数复合运算　138
　　7.3.3　基本门电路应用举例——简易火警报警器　140
　7.4　逻辑代数的数学描述　142
　　7.4.1　逻辑代数的公式与定律　142
　　7.4.2　逻辑代数的基本运算规则　143
　7.5　逻辑函数化简　144
　　7.5.1　逻辑函数表达式　144
　　7.5.2　逻辑函数的公式法化简　147
　　7.5.3　逻辑函数的卡诺图化简　148
　7.6　逻辑函数的描述方法及转换　153
　　7.6.1　逻辑函数的描述方法　153
　　7.6.2　几种描述方法之间的转换　154
　实验训练12　常用仪器的使用及与非门的功能测试　156

第8章　逻辑门电路　160
　8.1　TTL集成逻辑门电路　161
　　8.1.1　TTL与非门　161
　　8.1.2　其他类型的TTL门电路　161
　8.2　CMOS集成门电路　163
　　8.2.1　CMOS门电路　163
　　8.2.2　其他类型的CMOS门电路　164
　8.3　集成门电路的使用　166
　　8.3.1　TTL门电路的使用　166
　　8.3.2　CMOS门电路的使用　166

第9章　组合逻辑电路　170
　9.1　组合逻辑电路的分析与设计方法　171
　　9.1.1　组合逻辑电路的分析方法　171
　　9.1.2　组合逻辑电路的设计方法　173
　　实验训练13　组合电路设计训练　175
　9.2　常用组合逻辑电路　177
　　9.2.1　编码器　177
　　9.2.2　译码器　180
　　实验训练14　中规模组合逻辑电路设计一　185
　　实验训练15　中规模组合逻辑电路设计二　189
　　9.2.3　多路选择器　191
　　9.2.4　多路分配器　193
　　实验训练16　中规模组合逻辑电路设计三　195
　9.3　组合逻辑电路应用举例——八路抢答器　196
　9.4　组合逻辑电路的竞争-冒险现象　197
　　9.4.1　竞争-冒险现象及产生原因　197
　　9.4.2　竞争-冒险现象的判断　198

第10章　时序逻辑电路　202
　10.1　基本概念　203
　10.2　触发器　204
　　10.2.1　基本RS触发器　204
　　10.2.2　同步RS触发器　205
　　10.2.3　边沿触发RS触发器　208
　　10.2.4　同步D触发器　209
　　10.2.5　边沿触发的D触发器　210
　　10.2.6　T触发器　211
　　10.2.7　边沿JK触发器　212
　　实验训练17　锁存器、触发器逻辑功能测试及相互转换　214
　10.3　同步时序逻辑电路的分析方法　216
　10.4　同步时序逻辑电路的设计方法　218
　10.5　寄存器　221
　　10.5.1　数码寄存器　221
　　10.5.2　移位寄存器　222
　　10.5.3　74LS194移位寄存器及其应用　223
　　实验训练18　移位寄存器的功能测试及应用　225
　10.6　计数器　227
　　10.6.1　常用集成计数器　227
　　10.6.2　计数器的应用　229
　　实验训练19　用触发器设计同步计数器　232
　　实验训练20　集成计数器的功能测试及应用　233

第11章　半导体存储器与可编程逻辑器件　238
　11.1　存储器概述　239
　11.2　随机存取存储器(RAM)　239
　11.3　只读存储器（ROM）　240
　11.4　可编程逻辑器件　243
　
第12章　数/模与模/数转换　247
　12.1　数/模转换　248
　　12.1.1　基本原理　248
　　12.1.2　常用的D/A转换方法　249
　　12.1.3　数/模转换器的性能指标　252
　　12.1.4　集成D/A转换器DAC0832的应用　253
　12.2　模/数转换　255
　　12.2.1　基本原理　255
　　12.2.2　A/D转换器的主要参数　257
　　12.2.3　A/D转换器的常用类型　258
　　12.2.4　集成转换器的应用　260
　　实验训练21　D/A转换器的功能测试及应用　261
　　实验训练22　A/D转换器的功能测试及应用　262

第13章　综合技能训练　265
　13.1　数字万用表的使用　265
　　13.1.1　数字万用表的使用要点　265
　　13.1.2　电子元器件的测试　266
　13.2　焊接技术　267
　　13.2.1　焊接工具——电烙铁　267
　　13.2.2　电烙铁使用方法　267
　　13.2.3　使用烙铁进行手工焊接的步骤　268
　　13.2.4　对焊点的基本要求　270
　　13.2.5　注意事项　270
　13.3　数字电路的设计与制作　270
　　13.3.1　数字电路的安装　271
　　13.3.2　数字电路的调试　271
　　13.3.3　数字电路的故障检测与排除　272
　13.4　数字钟设计制作　273
　13.5　数字频率计的设计与制作　275
　　13.5.1　设计目的要求　275
　　13.5.2　设计内容、方法与步骤　275

参考文献　280

附录　281
附录A　半导体器件型号命名方法　281
附录B　TTL和CMOS逻辑门电路的技术参数　283
附录C　常用数字逻辑符号对照表　284
附录D　常用数字集成芯片引脚图　286

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